晶圆级电性失效分析专家-Wafer-Level Electrical Failure Analysis Expert(J20023)

岗位职责： 失效定位与分析： 主导晶圆级及封装前芯片的电性失效分析，通过制定针对性激励与测试方案，快速隔离功能失效、漏电、时序违例及电源/地短路等异常； 方案设计与验证： 基于电路原理、网表、版图及关键路径信息，设计并实施系统的电性测试方案，复现失效现象并精准定位异常区域； 跨团队协作闭环： 与设计、制造、测试及物理失效分析团队紧密对接，推动从电性定位到物理验证的完整分析闭环，确保问题根因被判定与解决； 流程优化与标准化： 梳理并完善晶圆级电性失效分析的标准流程，建立高效操作规范，提升分析效率与首次定位成功率。 【任职要求】 岗位要求： 教育背景与专业知识：硕士及以上学历，电子信息大类专业，具备扎实的集成电路与CMOS器件原理基础； 专业技能与资格：能使用Advantest V93K或Teradyne等ATE设备完成芯片电性测试，能使用PEM、Thermal、OBIRCH等EFA设备…… 完整岗位描述与官方投递入口,请登录后在岗位详情页查看。

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